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SDRAM与其它存储器相比,具有速度快、容量大、价格低、集成度高的优势;然而,SDRAM的测试却是一大难题。针对国内用户测试该类集成电路困难的现状,本文旨在研究SDRAM及相关测试理论,并以HY57V281620为例,实现了在国产ATE上SDRAM测试程序的开发。通过验证,该方法可以很好的解决长期以来SDRAM入库测试难的问题。