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对于高分子薄膜材料，由于表面分子处于与本体不同的环境中，所以高分子薄膜的很多性质与本体的差别很大。这就使得高分子薄膜的很多应用，例如涂层技术、吸附、选择性渗透膜以及光电器件等^[1,2]，都与薄膜的表面性质有密不可分的关系，因此，对于高分子薄膜表面性质的研究报道很多。研究方法包括原子力显微镜（AFM）^[3-5]、