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集成电路的发展对电路的精准度和可编程性提出了更高的要求。低成本、高灵活性的熔丝结构由此得到了大范围的应用。熔丝可调节方案随着熔丝数目的增加而呈指数倍数增加。在编写测试软件时，传统方法是机械地用if…else语句来编程，程序将是非常的冗长且可读性差。文章在总结传统测试方法弊端的基础之上提出了一种可用于准确、有效地熔断IC内置熔丝的新方法。通过寻找实际测量结果和对应熔断熔丝之间的规律，将数量级为2^n的熔丝熔断分析缩减至n次熔丝熔断分析。这种做法使程序简洁而又逻辑性强.