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多工位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石.一直以来,模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足致使并行测试效率(PTE:Parallel Test Efficiency)降低.测试系统架构不断地发展寻求并行测试效率的提高.这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进,产生更高的并行测试效率.