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介绍了X射线荧光法测定多种（12种）物料中14个组分的定量分析方法，该方法以熔融法制备样品并通过基本参数法拟合工作曲线，降低了基体效应，较好地将各基体拟合在同一条分析曲线中，为多基体曲线绘制提供了理论依据，方法简单、快速、准确、适用范围广，所测定物料中各元素的RSD为0．069％～11．177％，完全满足过程产品质量控制的需要。