热辐射体真实温度的测试研究

来源 :应用光学 | 被引量 : 0次 | 上传用户：kkk3231

【摘要】

：

在辐射测温中,普遍存在一个问题:被测温度物体表面发射率影响很大,而物体的发射率很难准确测量,这是因为发射率不仅与材料有关,而且还与波长、温度、表面状态(表面粗糙度、氧

【作者】

：

占春连李燕梅刘建平杨照金范纪红李正琪

【机构】

：

西安应用光学研究所

【出处】

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应用光学

【发表日期】

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2002年6期

【关键词】

：

热辐射体真实温度测试相对光谱功率光谱发射率光谱辐射 thermal radiator relative spectral power spectra

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在辐射测温中,普遍存在一个问题:被测温度物体表面发射率影响很大,而物体的发射率很难准确测量,这是因为发射率不仅与材料有关,而且还与波长、温度、表面状态(表面粗糙度、氧化程度等)有关.本文叙述一种利用多波长辐射法测量实际物体真实温度的方法.该方法利用最小二乘法原理拟合出实际热辐射体的光谱发射率曲线,从而使测量目标的真实温度成为可能.

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