【摘 要】
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在普通X射线源上进行X射线衍射断层扫描成像检测晶体材料内部缺陷的研究极少,短波长X射线衍射仪（short wavelength X-ray diffractometer,SWXRD）相比同步辐射装置,体积小巧、实
【机 构】
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北京科技大学北京市腐蚀、磨蚀及表面技术重点实验室,西南技术工程研究所
【基金项目】
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国家高技术研究发展计划（863计划）项目（2009AA03Z539）资助
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在普通X射线源上进行X射线衍射断层扫描成像检测晶体材料内部缺陷的研究极少,短波长X射线衍射仪（short wavelength X-ray diffractometer,SWXRD）相比同步辐射装置,体积小巧、实用和维护费用低。在SWXRD上进行X射线衍射断层扫描时,缺陷边界的确定直接影响成像的质量和缺陷的辨别。采用衍射强度阈值法对测试数据进行处理,使得缺陷边界清晰可辨。运用Gauss函数拟合测试数据探索各种因素对阈值大小的影响,解决阈值设定的难题。通过研究置于铝粉中的不同直径像质计对阈值大小的影响,发现
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