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0 引言随着科技的发展,人们开发了多种基于不同工作原理的颗粒粒度的测量方法和测量仪器.最常见的有筛分法、沉降法、Coulter法和激光散射法等.筛分法只适用于粗粒度的测定,70μm以下的筛分就十分困难;Coulter法操作条件苛刻,只适于电解质中悬浮的粉体;激光散射法则有价格昂贵、调整困难、分辨率低和操作复杂等缺点.因而在工业上最常见的是沉降法[1].