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目的
探讨事件相关电位(ERP)在颅脑外伤后智能损害评估中的应用。
方法选取60例颅脑外伤后智能损害患者作为病例组，同时选取60例健康的受试者作为正常对照组，应用脑电生理仪记录并比较两组的P300和P50的差异。
结果患者组P300[(440.430±77.367)ms]较对照组[(342.928±36.175)ms]潜伏期显著延长(P<0.01)、波幅降低[患者组(12.692±8.152)μV ，对照组(18.138±6.590) μV，P<0.01]。患者组S2-P50波幅明显高于对照组[患者组(3.75±1.59)μV ，对照组(2.42±1.43)μV，P<0.01]，S2-P50波幅/S1-P50波幅的比值明显大于对照组[患者组：(0.78±0.54)，对照组：(0.46±0.18)，P<0.01]。患者P300潜伏期和波幅与WAIS-RC总智商分呈显著相关(r＝－0.31，P<0.01；r＝0.17，P<0.01)；S2-P50的波幅和S2-P50波幅与S1-P50波幅的比值均与WAIS-RC总智商分显著呈负相关(r＝－0.33，P<0.01；r＝－0.45，P<0.01)。
结论ERP的P300和P50成分可为颅脑外伤后智能损害的司法鉴定提供参考。