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从微磁学理论出发，利用微磁学软件OOMMF，从理论上研究不同大小、方向的应力对FeCoSiB非晶磁弹性薄膜图形化单元磁畴、剩磁、矫顽力等磁性特性的影响。结果表明，磁滞回线明显取决于所施加的应力；且剩磁和矫顽力对应力的大小、方向的敏感度都很高。剩磁随应力以0．09／400MPa的梯度线性变化；矫顽力随应力以2mT／50MPa的梯度线性变化。