介质谐振器法测量高温超导薄膜微波表面电阻的误差分析

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用微扰法研究了两端接地型蓝宝石介质谐振器测量高温超导薄膜微波表面电阻RS 的误差与几何结构和工作频率的关系 .结果表明 ,介质柱直径与高度之比 2a L ,金属屏蔽腔内半径与介质柱半径之比b a以及工作频率f对测量误差和最小可测表面电阻Rsmin有很大影响 .所得到的曲线可用于蓝宝石介质谐振器的设计中 .结果还表明 ,适当选取 2a L ,b a与f可使测量误差接近于 1% ,最小可测表面电阻Rsmin可达到微欧姆的数量级 .这对于高温超导薄膜的检测和微波器件应用说来是足够的 . The perturbation method was used to study the relationship between the error of RS and the geometric structure and working frequency of the high temperature superconducting thin film by measuring the RS of the two ends grounded sapphire dielectric resonator.The results show that the ratio of the diameter of the dielectric column to the height is 2a L, The ratio of the inner radius to the dielectric column radius, ba, and the operating frequency, f, have a great influence on the measurement error and the minimum measurable surface resistance, Rsmin. The resulting curve can be used in the design of sapphire dielectric resonators. The results also show that, , ba and f can make the measurement error close to 1%, the minimum measurable surface resistance Rsmin can reach the order of micro-ohm, which is sufficient for the detection of high-temperature superconducting thin film and the application of microwave devices.
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