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由于电子背散射衍射（ＥｌｅｃｔｒｏｎＢａｃｋｓｃａｔｅｒｉｎｇＤｉｆｒａｃｔｉｏｎ，简称ＥＢＳＤ）技术［１］的发展，使得附有ＥＢＳＤ附件的扫描电镜能获取块状试样的尺度为０．５μｍ的微区结构信息。武汉大学物理系和武钢集团公司技术中心近年应用配有ＥＢＳＤ...
电子背散射衍射在取向测定和相分析中的应用
【摘 要】
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由于电子背散射衍射（ＥｌｅｃｔｒｏｎＢａｃｋｓｃａｔｅｒｉｎｇＤｉｆｒａｃｔｉｏｎ，简称ＥＢＳＤ）技术［１］的发展，使得附有ＥＢＳＤ附件的扫描电镜能获取块状试样的尺度为０．５μｍ的微区结构信息。武汉大学物理系和武钢集团公司技术中心近年应用配有ＥＢＳＤ...
【机 构】
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武汉大学物理系,武钢技术中心
【出 处】
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电子显微学报
【发表日期】
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1998年5期
【基金项目】
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国家自然科学基金
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