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以天光Ⅱ-B装置（250kA/50ns）作为实验平台,在装置负载的阴阳极和回流盘上同时安装X-pinch丝负载,利用天光Ⅱ-B驱动X-pinch丝负载,通过背光照相实验获得箍缩发展不同时刻的序列图像。在序列图像中可观察到箍缩叉点处等离子体的内爆及外爆消散。实验结果有助于进一步理解丝负载箍缩等离子体发展的物理机制。