功率载荷下叠层芯片封装热应力分析

来源 :哈尔滨理工大学学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zhuzy0909
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应用有限元分析软件ANSYS,模拟功率载荷下叠层芯片封装中各层的温度和应力分布.分析结果表明,下层芯片最高温度、最大等效应力和剪应力分别为412.088K,143MPa,65.4MPa,下层芯片的边角处应力和剪应力值最大,也是芯片最容易破坏和开裂的位置.
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