智能手机充电电源管理芯片国产替代设计

来源 :电子制作 | 被引量 : 0次 | 上传用户：storm030

【摘要】

：

短期新冠疫情导致的产能降低、长期中美科技竞争激发的半导体供应链安全,以及市场持续发展等多种原因,导致了国内电源管理芯片(PMIC)市场的严重“缺芯潮”.智能手机电源管理系统功能复杂,通常需要多颗PMIC芯片:主供电电源管理芯片、充电电源管理芯片、驱动电源管理芯片等.本文着重阐述智能手机充电电源管理芯片的国产替代方案设计.

【作者】

：

廖火生

【机构】

：

联想摩托罗拉移动科技(厦门)有限公司,福建厦门,361000

【出处】

：

电子制作

【发表日期】

：

2022年5期

【关键词】

：

充电国产替代 PMIC 电量计

下载到本地 , 更方便阅读

下载此文赞助VIP

声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架

论文部分内容阅读

其他文献

TFT-LCD液晶显示行业高温高湿G线和黑团原因分析

TFT-LCD产品在高温高湿信赖性实验中的G线和黑团不良,是影响液晶显示产品品质的主要问题之一.G线与黑团会同时发生,有时也会单独发生,我们认为黑团与G线的产生有个共同原因:水汽渗入;该文重点讲述G线不良的分析内容.在显微镜下可明确G线的失效直接原因为框胶覆盖下的GOA电路走线区交换孔被腐蚀,这种腐蚀在新品以及量产阶段的信赖性实验中都经常发生.部分不良品在切割边可看到明显的破损痕迹,我们认为是由于外力作用下边框密封性变差而导致水汽渗入的.但大部分失效品在切割边见不到明显异常,失效分析难度较大,一直困扰着液

期刊

TFT-LCD腐蚀高温高湿

进口塑封集成电路键合点分层现象的识别

军用电子设备中进口塑封集成电路得到普遍的使用.但因为采购渠道的限制使生产的产品质量时好时坏,参差不齐,那么甄别其质量的好坏在产品使用过程中很重要.在进行破坏性物理分析时可以通过X射线、金相、扫描电镜光学扫描电镜(SEM)分析表明,在销轴上有一层连接点,分为上、下两层.此外,我们还分别用电子能谱分析了键合点和键合丝的组成.

期刊

集成电路键合点分层现象破坏性物理分析键合丝

智能手机充电电源管理芯片国产替代设计

其他学术论文