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基于集成电路技术的发展趋势,从技术发展、应用、鉴定评价三个层面提出集成电路可靠性评价的新需求。针对可靠性筛选、寿命试验和可靠性预计进行传统集成电路可靠性评价技术的适用性分析。针对六种集成电路可靠性评价新方法进行基础理论和国内研究现状分析,包括可靠性预计方法的扩展、基于敏感参数的可靠性评价、基于失效物理的可靠性评价、基于失效物理的可靠性预计、故障预计与健康管理和可靠性强化试验。提出即时定量地对高可靠集成电路进行有效的可靠性评价,需要根据具体需求采取各种先进的可靠性评价方法。强调可靠性是设计出来的,核心永远是