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目的：建立高Z纳米介质对X—γ射线和质子／重离子的宏观剂量增强效应模型，讨论其评价高Z纳米介质放射增敏效应的局限性。方法：基于宏观剂量学的质能吸收系数、质量阻止本领、电子阻止本领以及传能线密度（LET）概念，推导组织内均匀分布的高Z纳米介质对X-γ光子、质子或重离子的宏观剂量增强比；分析剂量增强比随射线能量、纳米介质原子序数和组织内含量的变化规律；对比放射增敏比实验研究结果，讨论宏观剂量学模型评价高Z纳米介质放射增敏效应的局限性。结果：宏观剂量学分析表明高Z纳米介质可以对X-γ射线和质子／重离子产生宏观剂