【摘 要】
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目前很多数据采集现场，大量使用ADC芯片进行模数转换，而现在ADC芯片特别是Er-A(Sigma-Delta)型ADC芯片，内部有很多可配置的寄存器，如控制、模式、增益寄存器等，这些寄存器是基于SRAM结构的。现场有可能在连续采样中，ADC芯片受到瞬间干扰，使得ADC芯片被异常复位而CPU没有复位，ADC内部状态寄存器便被复位到上电默认值，此时如果采集CPU没有觉察到，以后将一直采集到错误的数据。
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目前很多数据采集现场，大量使用ADC芯片进行模数转换，而现在ADC芯片特别是Er-A(Sigma-Delta)型ADC芯片，内部有很多可配置的寄存器，如控制、模式、增益寄存器等，这些寄存器是基于SRAM结构的。现场有可能在连续采样中，ADC芯片受到瞬间干扰，使得ADC芯片被异常复位而CPU没有复位，ADC内部状态寄存器便被复位到上电默认值，此时如果采集CPU没有觉察到，以后将一直采集到错误的数据。下面以∑-△型ADC芯片为例，说明可能出现的过程以及处理对策。
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