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研究了掺到原料W粉中微量Si(400ppm)在W-7Ni-3Fe重合金中的分布及在液相烧结过程中的行为。结果表明,Si主要以固溶形式分布在W晶粒中。X射线光电子能谱(XPS)分析发现,在掺杂Si的W-W及W-基体相界面富集SiO2和Na2SiO3在未掺杂试样的断口表面发现了较弱的WO2的XPS谱,而在掺杂合金中未发现WO2。