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XRF和LA-ICPMS测定硫化物熔片中的主次量元素

来源 :光谱学与光谱分析 | 被引量 : 2次 | 上传用户：long060112

【摘 要】

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采用高纯HNO_3为氧化剂代替传统的氧化剂,以GeO_2为玻璃化试剂,建立了一种简单、高效的硫化物熔融玻璃片的前处理方法。XRF和LA-ICPMS分析结果表明,相对于粉末压片法,熔片法制备的样品具有更好的均一性和可靠性。3种硫化物国家一级标准物质的XRF和LA-ICPMS主次量元素(Si,Al,Fe,Mg,K,Ca,Na,Mn,Cu,Zn)分析测试结果均与推荐值相吻合(Ti缺少推荐值),测定误差都

【作 者】

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徐娟 杨守业 胡兆初 罗涛 黄湘通 

【机 构】

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同济大学海洋地质国家重点实验室,中国地质大学地质过程与矿产资源国家重点实验室

【出 处】

：

光谱学与光谱分析

【发表日期】

：

2016年05期

【关键词】

：

硫化物 X射线荧光光谱仪 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪 氧化剂 二氧化锗 X-ray fluorescence spectrometry  Laser abl 

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采用高纯HNO_3为氧化剂代替传统的氧化剂,以GeO_2为玻璃化试剂,建立了一种简单、高效的硫化物熔融玻璃片的前处理方法。XRF和LA-ICPMS分析结果表明,相对于粉末压片法,熔片法制备的样品具有更好的均一性和可靠性。3种硫化物国家一级标准物质的XRF和LA-ICPMS主次量元素(Si,Al,Fe,Mg,K,Ca,Na,Mn,Cu,Zn)分析测试结果均与推荐值相吻合(Ti缺少推荐值),测定误差都在允许范围内,XRF三次熔片测试结果的精密度RSD<5.6%;LA-ICPMS 15次测试结果精密度RS

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