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为识别IGBT模块早期内部缺陷，增强其运行的可靠性，本文提出一种基于杂散参数辨识的IGBT模块内部缺陷的诊断方法。该方法利用最小二乘法辨识IGBT模块门极内部杂散参数因经受电、热老化而导致的变化，进而判断内部是否存在缺陷，及时制定维护措施，从而有效防止运行中突发失效及由此造成的设备损坏。与现有的故障诊断方法相比，其响应时间更充裕，实验研究结果验证了其诊断结论的正确性和实用性。