利用SEM观察针状磁粉的稀释堆积状态

来源 :磁记录材料 | 被引量 : 0次 | 上传用户：shui__hen

【摘要】

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早在1947年,Neel 研究了磁粉单畴颗粒相互作用对其矫顽力的影响,并假设磁份在无限稀释情况下的矫顽力最大。Smaller 和 Bot-toni 分别利用透射电子显微镜和光学显微镜,观察了

【作者】

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王华文尚淑霞

【机构】

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山东大学,山东大学

【出处】

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磁记录材料

【发表日期】

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1989年1期

【关键词】

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磁粉 SEM观察透射电子显微镜单畴颗粒光学显微镜碳酸银稀释度扫描电子显微镜样品制备无限稀释

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早在1947年,Neel 研究了磁粉单畴颗粒相互作用对其矫顽力的影响,并假设磁份在无限稀释情况下的矫顽力最大。Smaller 和 Bot-toni 分别利用透射电子显微镜和光学显微镜,观察了不同稀释度磁粉的堆积状态,并且研究了稀释度对磁粉矫顽力的影响。由于透射电子显微镜对磁粉样品制备的限制,不可能对磁粉样品作自然堆积状态的观察。本文利用

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