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营养液培养试验表明，缺硼明显降低黄瓜幼苗植物的生长量，植株叶片细胞质膜Ｋ＾＋的渗漏增加，细胞结构受损。此外，叶片中蔗糖和还原糖都明显积累。缺硼的上述反应在低温胁迫（７￣８℃，以２５￣２８℃为对照）时表现更为明显。试验结果表明硼对于细胞膜的完整性具有重要的作用；充分供硼可以减轻低温对细胞膜的伤害。