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“集成电路可靠性技术及发展”技术研讨会圆满结束
“集成电路可靠性技术及发展”技术研讨会圆满结束
来源 :电子产品可靠性与环境试验 | 被引量 : 0次 | 上传用户:idlerman
【摘 要】
:
由中国半导体行业协会和中国国际贸易促进委员会电子信息行业分会主办,信息产业部电子第五研究所(中国赛宝实验室)承办的“2004年中国集成电路可靠性技术及发展技术研讨会”9
【出 处】
:
电子产品可靠性与环境试验
【发表日期】
:
2004年5期
【关键词】
:
中国半导体行业协会
电子信息行业
中国国际贸易促进委员会
集成电路产业
信息产业部
发展
可靠性技术
IC
技术研讨会
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由中国半导体行业协会和中国国际贸易促进委员会电子信息行业分会主办,信息产业部电子第五研究所(中国赛宝实验室)承办的“2004年中国集成电路可靠性技术及发展技术研讨会”9月3日在上海召开,“IC-CHINA 2004第二届中国国际集成电路产业展览暨研讨会”也同期举办。
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