模拟集成电路模块生成系统的电气性能研究

来源 :微电子学 | 被引量 : 0次 | 上传用户：qiuxuefalv

【摘要】

：

文章对模拟集成电路模块生成系统的电气性能进行了系统研究,如MOS晶体管失配量、栅极RC常数、寄生电容及路径载流等.并将各电气参数的估算值与具体应用相结合,控制不同限制条

【作者】

：

裴先登张理洪谢长生 Ulrich Kleine

【机构】

：

华中科技大学,马格德堡大学

【出处】

：

微电子学

【发表日期】

：

2002年5期

【关键词】

：

电气性能模块生成系统模拟集成电路 Electrical property Module generation environment Analog in

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文章对模拟集成电路模块生成系统的电气性能进行了系统研究,如MOS晶体管失配量、栅极RC常数、寄生电容及路径载流等.并将各电气参数的估算值与具体应用相结合,控制不同限制条件及应用背景下的模块生成,增强电路设计的可靠性.采用该电气性能驱动的模块生成系统,已经辅助设计出多个高性能集成运算放大器、模拟开关等芯片版图.

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