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Tisseur(2000)研究了非齐次多项式特征值问题的条件数,所得结果的不足是对无穷特征值必须另外处理;Dedieu和Tisseur(2003)运用微分几何方法研究了齐次多项式特征值问题的条件数,所得结果的不足之处是与系数矩阵的尺度化(scaling)有关.这两种条件数都有各自的应用范围.本文基于投影尺度引入齐次多项式特征值问题的条件数,其优点是与系数矩阵的尺度化无关,因而也许会有较广泛的应用.