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提出了用CCD摄像机采集晶体锥光干涉图来快速精确测量晶体的光轴方向的方法。转动晶片使光轴的出露点形成圆形轨迹，通过最小二乘法对多个测试点拟合得到圆半径和圆心坐标。利用光轴垂直表面的晶片的锥光干涉图来确定数字图像中的距离与光线入射角的关系，使定标误差减小约一个数量级。分析了系统测量误差，提出了为保证测量精度需要采取的措施。对多片不同光轴取向的铌酸锂晶体进行了测量，误差小于0．1°。