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分析研究了常规电离层总电子含量TEC(Total Electric Content)提取的精度评估问题。提出了基于临近穿刺点偏差和相邻天邻近历元跳变分析的综合电离层TEC提取精度评估方法;并采用MGEX和iGMAS部分测站实测数据,验证了该方法的有效性。与传统方法相比,采用该方法给出的评估结果更加细化,可用于小区域电离层的活动程度分析。