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为消除空间粒子测量中干扰粒子对粒子探测器测量精度的影响,空间反符合杯测量技术得到广泛应用。本文介绍了空间干扰粒子的来源及反符合杯测量系统的原理,针对系统测试需求,基于A225F芯片对系统输出脉冲读出电路进行了设计,并对A225F芯片的使用做了详细介绍,实现了高计数率下准高斯波形的整形,通过仿真和实验结果,验证了电路设计的合理性。