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V93000 Smart Scale测试机台专为采用28nm及更小尺寸工艺和3D架构芯片而设计，是具备先进通道卡功能的创新一代“智能”测试机台。智能测试意味着每个通道卡具有独立的时钟域，通过匹配受测器件的准确数据率要求，实现全面的测试覆盖率。配合电源调制、
可扩展、高性价比的测试机台
【摘 要】
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V93000 Smart Scale测试机台专为采用28nm及更小尺寸工艺和3D架构芯片而设计，是具备先进通道卡功能的创新一代“智能”测试机台。智能测试意味着每个通道卡具有独立的时钟域，通
【出 处】
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今日电子
【发表日期】
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2011年9期
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