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期刊论文
间歇寿命试验方法和技术
间歇寿命试验方法和技术
来源 :集成电路通讯 | 被引量 : 0次 | 上传用户:usa8577037
【摘 要】
:
GJB548A-96和GJB548B-2005对间歇寿命试验的规定都比较简单,本文较详细地介绍间歇寿命试验方法和技术以及用555定时器制作一个能满足试验要求的使器件受“开”和“关”之间的
【作 者】
:
王俊祥
【机 构】
:
中国兵器工业第214研究所
【出 处】
:
集成电路通讯
【发表日期】
:
2010年2期
【关键词】
:
间歇寿命
时间开关
555定时器
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GJB548A-96和GJB548B-2005对间歇寿命试验的规定都比较简单,本文较详细地介绍间歇寿命试验方法和技术以及用555定时器制作一个能满足试验要求的使器件受“开”和“关”之间的电应力周期变化的“时间开关”,并给出其在间歇寿命试验中的应用。
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