在锥束CT系统中,由于不易安置后准直器,未经校正的散射信号会导致测量信号偏离真实值,从而降低图像对比度和信噪比甚至产生伪影。利用散射校正板(Beam Stop Array,BSA)可有效估计射线穿过工件后的散射信号分布。本文将BSA散射校正方法应用于锥束微纳CT系统,通过在X射线源与工件之间放置校正板的方式获取散射分布。首先介绍了基于BSA散射校正的基本原理,给出了具体的实验装置和实验步骤,然后使用自主研制的锥束微纳CT系统对几种工件进行扫描成像,最后从DR投影、重建切片、三维重建图像等多个角度对图像质量进行分析,结果表明,基于BSA的散射校正方法能够有效减少锥束微纳CT系统的散射伪影,改善图像质量,验证了BSA方法应用于锥束微纳CT系统的可行性。考虑到微纳CT射线源能量低、焦点漂移影响大等因素,在散射校正的基础上增加了硬化校正和焦点漂移校正,对图像质量进行了进一步修正。