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功能验证是制约集成电路设计发展的主要瓶颈，针对功能验证中存在的测试集设计难度大及覆盖模型精度低等问题，提出一种基于分类树方法的高效测试集生成方法及功能覆盖模型搭建方法，将验证方法应用于模加／模减单元的功能验证中。结果证明，运用分类树方法管理测试向量和搭建覆盖模型，可以显著提高验证完备性和可靠性。