磁光调制法双折射光纤拍长测试技术研究

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研究了光纤拍长磁光调制法测试系统中,对于给定的磁隙宽度和磁场强度,起偏方式与检偏方式对拍长测试灵敏度的影响。通过理论分析与实验研究,发现有三种测试方式均能得到最大灵敏度:1)入射线偏振光的偏振方向与光纤双折射主轴夹角θ为0°或90°,同时Wollaston棱镜的两个检偏主轴与保偏光纤的双折射主轴夹角γ为45°;2)入射线偏振光θ=45°,同时γ=0°或90°;3)入射光为圆偏振光,同时γ=0°或90°。三种情况下的测试灵敏度基
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