【摘 要】
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本文利用低功率X射线荧光分析技术（XRF）对电解镍溶液样品进行了研究,重点探讨了影响镍电解液中Ni^2＋、Cl^-、SO4^2-同时测量的因素,优化了实验条件。实验表明,镍的质量浓度（ρ）在3
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本文利用低功率X射线荧光分析技术（XRF）对电解镍溶液样品进行了研究,重点探讨了影响镍电解液中Ni^2＋、Cl^-、SO4^2-同时测量的因素,优化了实验条件。实验表明,镍的质量浓度（ρ）在35～110g/L、氯离子的质量浓度（ρ）在30～90g/L、硫酸根离子的质量浓度（ρ）在55～160g/L范围内,待测元素质量浓度与其荧光强度存在着良好的线性关系。将本方法用于镍电解液实际样品分析,测得结果与其它化学分析方法结果相符合,相对标准偏差（RSD,n=11）为0.3%～0.4%。
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