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从理论上引出了“等效平面”和“等效源样距”的概念，将岩壁表面凹凸不平对Ｘ辐射取样的影响等效成表面为平面时源样距的变化对Ｘ辐射取样的影响。提出了克服不平度效应的“特散比”基本参数．模拟岩壁模型实验表明，当表面凹凸起伏等于１０ｍｍ时，凹凸面测得的特散比值相对于光滑平面的相对误差绝对值的平均值小于５％。在Ｓｎ、Ｍｏ、Ｐｈ（Ｚｎ）等矿山的应用实践表明，Ｘ辐射取样方法提供的矿石平均品位（或线储量）与传统刻槽化学方法相比，相对误差小于１０％，可满足矿山的开采要求．