论文部分内容阅读
用脉冲激光沉积在（001）SrRuO3/（001）SrTiO3上外延生长了c轴取向的Bi3.15Nd0.85Ti3O12（BNdT）铁电薄膜。SrRuO3底电极层厚约117nm,BNdT薄膜厚～35nm。X射线衍射（XRD）和透射电镜（TEM）观察证实了SrRuO3层和BNdT薄膜的外延生长。通过TEM平面样品观察,在SrRuO3/BNdT界面附近看到了两种衬度处于不同高度的失配位错网,位错线沿〈110〉走向,其柏格斯矢量沿[110]或[110]方向有分量,在[001]方向上可能没有分量。讨论了位错的形成