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在X射线TICT中，x射线在透射物质时，能量较低的射线优先被吸收，也即较高能量的x射线的衰减系数比较低能量的x射线的衰减系数小，射线随透射厚度增大，变得更易穿透，也就是发生了能谱硬化现象．如未修正，必引起赝像．而X射线源的能谱I0（e）为入射强度随能量E的分布函数．而分布函数I0（e）与E的关系随x射线管电压不同而变化，需要通过实验测定．文中对能谱硬化现象进行了分析，并利用入射强度分布函数是大量光子运动的Gauss分布统计规律和相关文献对x射线源能谱的实验研究分析，引入Gauss分布来描叙x射线源能谱I0