论文部分内容阅读
对在通常实验室环境下注入到Au中的7Be发生电子俘获的半衰期进行测量。共测量4.8个半衰期,测得T（1/2）=（53.245±0.003）d。此测量结果可作为研究7Be衰变率随环境不同而发生变化时的参照值。
^7Be在Au中衰变率的精确测量
【摘 要】
：
对在通常实验室环境下注入到Au中的7Be发生电子俘获的半衰期进行测量。共测量4.8个半衰期,测得T（1/2）=（53.245±0.003）d。此测量结果可作为研究7Be衰变率随环境不同而发生变
【机 构】
：
中国原子能科学研究院核物理研究所
【出 处】
：
原子能科学技术
【发表日期】
：
2007年4期
【基金项目】
：
中核预研基金资助项目（13Y205030501）,国家自然科学基金资助项目（10305020）
其他文献
mA量级直流恒流电源具有过保护电压较低的缺点,不适于制作大面积、高活度63 Ni放射源。本文以正脉冲电源为解决方案,系统研究在简单组分的镀镍溶液中,各工艺条件对电镀结果的