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随着＂d0铁磁性＂的提出,多种类型的＂d0＂氧化物铁磁性半导体被相继报道,包括d0金属掺杂的氧化物半导体、未掺杂的氧化物半导体、及最近发现的轻元素（如C、N、P）掺杂的氧化物半导体。实验及理论计算结果都一致认为铁磁性跟缺陷密切相关,但具体是那一种缺陷理论和实验上存在分歧,缺陷与铁磁性本质的联系一直未有定论,这将应该是理论和实验下一步的研究内容。