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闭合相位技术、U_V覆盖技术和像重构技术是光学综合孔径干涉成像的三个关键技术。文中详细介绍了闭合相位技术的原理、U_V覆盖技术 (包括即时覆盖和通过孔径旋转的非即时覆盖两种方法 )和用于图像重构的常用方法以及用于光学综合孔径像重构的混合迭代方法 ,最后讨论了光学综合孔径干涉成像技术的应用。
光学综合孔径干涉成像技术
【摘 要】
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闭合相位技术、U_V覆盖技术和像重构技术是光学综合孔径干涉成像的三个关键技术。文中详细介绍了闭合相位技术的原理、U_V覆盖技术 (包括即时覆盖和通过孔径旋转的非即时覆盖
【机 构】
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国家天文台南京天文光学技术研究所
【出 处】
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光学精密工程
【发表日期】
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2002年05期
【基金项目】
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中国科学院资助项目，国家高技术研究发展计划(863计划)
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