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高频光电导衰减法测试Ge单晶少数载流子寿命

来源 :半导体技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户：dh5601

【作 者】

：

佟丽英  王俭峰  史继祥  张继荣  邢友翠  戚红英  李亚 

【出 处】

：

半导体技术

【发表日期】

：

2010年11期

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