【摘 要】
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超深亚微米工艺和基于可复用嵌入式IP模块的系统级芯片（SoC）设计方法使测试面临新的挑战，需要研究开发新的测试方法和策略；本文首先介绍了在CMOS集成电路中的IDDQ测试方法，介绍其
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超深亚微米工艺和基于可复用嵌入式IP模块的系统级芯片（SoC）设计方法使测试面临新的挑战，需要研究开发新的测试方法和策略；本文首先介绍了在CMOS集成电路中的IDDQ测试方法，介绍其基本原理，展示了测试的优越性，CMOSIC本质上是电流可测试，IDDQ和功能测试相结合，可大大改善故障覆盖率，提高测试的有效性；最后提出了一种基于IDDQ扫描的SOC可测性方案，是在SoC扫描测试中插入IDDQ的测试方法，这是一种基于BICS复用的测试技术，并给出了仿真结果最后得出结论。
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