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随着三维立体分析法的技术和分辨率在最近十年来得到了改进,现在有可能用三维数字空间对多相物料的微观结构进行详细描述.在这方面,三维X射线显微层析法提供了一套独特的成像能力.应用显微聚焦X射线发生器可以达到10μm级的立体分辨率.最近,美国犹他大学安装了一套现代化的圆锥形X光束显微层析系统用于对多相物料进行三维空间的定量分析.该系统可以在直径10 mm的范围内得到2048×2048像素的图像,同时也可以得到某些较大物体(40 mm)的影像.该系统能够处理高密度的物料,密度可以达到8.0 g/cm3.