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采用齐次泊松过程（HPP）与失效物理模型相结合的模型，即HPP-Arrhenius综合模型，探讨了可修电子部件定量加速寿命试验方法。该方法充分利用了可靠性预计数据建模，并通过定时截尾试验方案来验证评估该综合模型的适用性。结果表明，该模型和方法不仅在试验数据处理方面比传统的Arrhenius模型有更高的精度，而且还可校正失效物理模型中激活能等参数预计值。