论文部分内容阅读
通过电沉积法在阳极氧化铝（AAO）模板内制备了镍纳米线，然后在800℃下氧化8h得到NiO纳米线。利用X射线衍射（XRD）、原子力显微镜（AFM）和扫描电子显微镜（SEM）对NiO纳米线的组成、结构和形貌进行了表征，并测试了NiO／AAO阵列体系的光电压。测试结果表明：NiO纳米线为面心立方结构，平均晶粒尺寸为50nm，纳来线直径约90nm．与模板孔径相当；长度约为25μm，并受镍纳米线沉积时间的影响；在紫外灯（365nm）照射下，40v比60V NiO／AAO阵列体系的光电压大。