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采用低温水相沉淀法制备得到WO_3纳米片,通过X射线衍射法（XRD）、扫描电子显微镜（SEM）、热重分析法（TG）和红外光谱法（IR spectra）等分析方法对其结构、组成及形貌进行测试表征;并通过循环伏安测试（CV）及恒流充放电测试等电化学测试,研究了WO_3纳米片的电容性能.测试结果表明：本实验所制备的尺寸为300 nm×300 nm×40 nm的WO_3纳米片;其比电容值可达217 F·g~（-1）,并具有良好的循环寿命.