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粒度测量,特别是超细粉的粒度测量在粉体技术方面逐步引起人们的普遍重视。传统方法受到测量速度和精度的限制,文中提出了利用激光散射的原理测量粒度大小分布的原理和结构。重点讨论了单片机系统的软硬件设计,所研制的粒度分析仪具有便携,易操作,测量速度快,测量准确等优点。在粉体加工等领域得到广泛地应用。