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本文采用透射电子显微镜(TEM)、能谱分析(EDAx)对人工时效条件下晶界无析出带(PFZ)的演变规律进行研究。实验选用同一投影方向测量PFZ的宽度。结果表明PFZ的宽度对时效温度的敏感性远远高于对时效时间的敏感性。时效温度越高PFZ越宽，而在同一时效温度下PFZ的宽度并不随时效时间的延长而宽化。PFZ的宽度与相邻两个晶粒之间的取向差有关系。在相同处理条件下，小角度晶界附近PFZ宽度小于大角晶界。能谱分析显示PFZ内为贫溶质原予区,Zn元素缺失尤为明显。