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工艺进入65nm后,芯片集成度越来越高,器件的尺寸原来越小,加上走线宽度的减少,互连寄生效应越来越大,对SRAM的性能的影响也愈加显著。本文从全定制的设计流程出发,介绍了怎样实现SRAM不同功能模块之间的版图布局和IP的设计。在保证模块性能的同时,减少互连寄生对SRAM的影响,保证SRAM的高速运行。